非接触式光学膜厚仪


非接触式光学膜厚仪本设备操作简单,放置样品即可测量的。一步到位。

缩短检查工程,无标准曲线,精度高,分辨率高,轻松测量样品的绝对厚度。

光学方式为大冢电子独创,不仅外形小巧,无论透明?粗糙还是易变形的样品,都可以实现非接触式的高精度测量。

 

 

 

 

 

 

产品信息

特长

  • 非接触式测量不透明、粗?#20898;?#26131;变形的样品

  • 反复性?再现性高

  • 无标准曲线?#37096;?#30693;道绝对厚度

  • 测量径很小,不受斑点的影响

  • 样品位置无需调整,放进去即可。

  • 稳定性高,不会产生误差,所以谁都能操作。

  • 光学方式原理所以安全

式样

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构成图?原理

构成图

任?#31283;?#37117;会测量

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1STEP-02.jpg

原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)
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比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

 非接触光学膜厚仪接触式膜厚仪X线式膜厚仪変位計
样品凝胶片×
不织布××
金属板
树脂
多孔质×
陶瓷×
紙?木×
测量

测量时间○ 高速
非接触测量○ 非接触×
前处理○ 不要×

测量案例

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